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上海楹点检测设备有限公司

无损检测, 超声探伤仪, 测厚仪, 硬度计, 粗糙度仪, 测振仪

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高端便携移动式直读光谱仪
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产品: 浏览次数:280高端便携移动式直读光谱仪 
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-10-04 12:59
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详细信息

“高端便携移动式直读光谱仪”参数说明

光数: 单色仪 光波段: 火花
色散元件: 光栅光谱仪 探测方法: 分光光度计
工作原理: 经典光谱仪 产量: 陕西

“高端便携移动式直读光谱仪”详细介绍

  Belec Compact Port移动式光谱仪技术参数
  Belec Compact Port移动式光谱仪用于固体样品元素定量分析的仪器。光学系统采用PMT检测器,光谱范围覆盖全部典型材料。

  Compact Port移动式光谱仪技术参数
  光学系统:
  -帕邢-龙格结构双光谱室,
  -光栅刻线 360线/mm
  -罗兰圆30 mm
  -检测器系统:PMT检测器
  -色散率:0,9 nm/mm(一级光谱)
  -波长范围:190-410nm/20–430 nm

  探头基本描述
  低损耗钨电极(氩气火花探头)
  高效能银电极(空气火花探头)
  探头链接系统
  标准探头
  光源:
  -火花激发源最大频率40Hz
  -单极放电
  -光源参数,点火频率参数计算机控制
  -点火电压:20KV
  电源:
  20-240V/50-60Hz;
  待机功率10W;
  分析功率60W;
  配备大容量充电电池
  计算机及读出系统(integrated hardware)
  -Euro-Card格式模块计算机系统,Windows XP操作系统,
  -RAM>512MB,2¼”Hard Disc>60 GB,CPU>1.0GHz
  -电池供电实时时钟日期功能
  -配备接口,USB,PS2,串口l,VGA,局域网,并口
  显示屏
  -内置高清晰度10.4"液晶显示器
  -坚固耐用工业触摸屏,防水防尘开合式集成键盘,易于操作

  软件
  -BELEC WIN21光谱分析软件,多任务操作:
  -原材料分选
  -多种PMI测试程序
  -自动根据给定偏差和激发次数进行标定控制
  -可选激发次数进行PMI测试
  -根据设定数据进行电极清理
  -对称及不对称偏差
  -PMI元素显示及相应偏差
  -检测结果存储及打印
  -可自由编辑报告
  -牌号鉴别
  -每套曲线存储超过30个牌号数据
  -PMI测试中显示牌号
  -分析及搜索给出鉴定牌号
  -定向分析(成分近似分析)
  -分析程序无限制数量
  -显示光强值、强度比、再校准和校正强度比
  -分析结果百分含量或ppm显示
  -1-2点曲线再校准
  -相加和相乘的干扰校正
  -基体校正
  -自动选择谱线
  -任意激发次数的数据计算平均值、标准偏差及变异系数
  -结果超出曲线范围的标示
  -样品标识输入
  -分析数据可传输至外部计算机
  -连接外部打印机及显示器
  -硬盘故障自诊断
  -分析数据以Excel,ASCII等标准格式存储
  -曲线数量无限制
  -谱图对比鉴别牌号。
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